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『簡體書』半导体材料测试与分析

書城自編碼: 2720580
分類:簡體書→大陸圖書→工業技術電子/通信
作者: 杨德仁
國際書號(ISBN): 9787030270368
出版社: 科学出版社
出版日期: 2010-04-01

頁數/字數: 381页
書度/開本: 16 釘裝: 精装

售價:HK$ 436.6

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內容簡介:
半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石,而其电学性能 、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量,因此,半导体 材料性能和结构的测试和分析,是半导体材料研究和开发的重要方面。本 书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术,涉及测试技术的基本原理、 仪器结构、样品制备和应用实例等内容:包括四探针电阻率、无接触电阻 率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、 正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V 等测试分析技术。
本书可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太 阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书,也可 供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。
目錄
前言
第1章 电阻率测试
第2章 扩展电阻测试
第3章 少数载流子寿命测试
第4章 少数载流子扩散长度测试
第5章 霍尔效应测试
第6章 红外光谱测试
第7章 深能级瞬态谱测试
第8章 正电子湮没谱测试
第9章 光致荧光谱测试
第10章 紫外-可见吸收光谱测试
第11章 电子束诱生电流测试
第12章 I-V和C-V测试

 

 

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